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          Iet Circuits Devices & Systems

          評價信息:

          影響因子:1

          年發(fā)文量:26

          集成電路設(shè)備和系統(tǒng) SCIE

          Iet Circuits Devices & Systems

          《集成電路設(shè)備和系統(tǒng)》(Iet Circuits Devices & Systems)是一本以工程技術(shù)-工程:電子與電氣綜合研究為特色的國際期刊。該刊由Wiley出版商創(chuàng)刊于2007年,刊期Bi-monthly。該刊已被國際重要權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄。期刊聚焦工程技術(shù)-工程:電子與電氣領(lǐng)域的重點研究和前沿進展,及時刊載和報道該領(lǐng)域的研究成果,致力于成為該領(lǐng)域同行進行快速學(xué)術(shù)交流的信息窗口與平臺。該刊2023年影響因子為1。CiteScore指數(shù)值為3.8。

          投稿咨詢 加急發(fā)表

          期刊簡介預(yù)計審稿時間: 較慢,6-12周

          IET Circuits, Devices & Systems covers the following topics:

          Circuit theory and design, circuit analysis and simulation, computer aided design

          Filters (analogue and switched capacitor)

          Circuit implementations, cells and architectures for integration including VLSI

          Testability, fault tolerant design, minimisation of circuits and CAD for VLSI

          Novel or improved electronic devices for both traditional and emerging technologies including nanoelectronics and MEMs

          Device and process characterisation, device parameter extraction schemes

          Mathematics of circuits and systems theory

          Test and measurement techniques involving electronic circuits, circuits for industrial applications, sensors and transducers

          IET 電路、器件與系統(tǒng)涵蓋以下主題:

          電路理論與設(shè)計、電路分析與仿真、計算機輔助設(shè)計

          濾波器(模擬和開關(guān)電容器)

          電路實現(xiàn)、單元和集成架構(gòu)(包括 VLSI)

          可測試性、容錯設(shè)計、電路最小化和 VLSI 的 CAD

          用于傳統(tǒng)和新興技術(shù)(包括納米電子學(xué)和 MEM)的新型或改進電子設(shè)備

          器件和工藝特性、器件參數(shù)提取方案

          電路和系統(tǒng)理論的數(shù)學(xué)

          涉及電子電路、工業(yè)應(yīng)用電路、傳感器和換能器的測試和測量技術(shù)

          《Iet Circuits Devices & Systems》(集成電路設(shè)備和系統(tǒng))編輯部通訊方式為WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。如果您需要協(xié)助投稿或潤稿服務(wù),您可以咨詢我們的客服老師。我們專注于期刊咨詢服務(wù)十年,熟悉發(fā)表政策,可為您提供一對一投稿指導(dǎo),避免您在投稿時頻繁碰壁,節(jié)省您的寶貴時間,有效提升發(fā)表機率,確保SCI檢索(檢索不了全額退款)。我們視信譽為生命,多方面確保文章安全保密,在任何情況下都不會泄露您的個人信息或稿件內(nèi)容。

          中科院分區(qū)

          2023年12月升級版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

          2022年12月升級版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

          2021年12月舊的升級版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

          2021年12月基礎(chǔ)版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

          2021年12月升級版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

          2020年12月舊的升級版

          大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū) Top期刊 綜述期刊
          工程技術(shù) 3區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)
          名詞解釋:

          基礎(chǔ)版:即2019年12月17日,正式發(fā)布的《2019年中國科學(xué)院文獻情報中心期刊分區(qū)表》;將JCR中所有期刊分為13個大類,期刊范圍只有SCI期刊。

          升級版:即2020年1月13日,正式發(fā)布的《2019年中國科學(xué)院文獻情報中心期刊分區(qū)表升級版(試行)》,升級版采用了改進后的指標方法體系對基礎(chǔ)版的延續(xù)和改進,影響因子不再是分區(qū)的唯一或者決定性因素,也沒有了分區(qū)的IF閾值期刊由基礎(chǔ)版的13個學(xué)科擴展至18個,科研評價將更加明確。期刊范圍有SCI期刊、SSCI期刊。從2022年開始,分區(qū)表將只發(fā)布升級版結(jié)果,不再有基礎(chǔ)版和升級版之分,基礎(chǔ)版和升級版(試行)將過渡共存三年時間。

          JCR分區(qū)(2023-2024年最新版)

          JCR分區(qū)等級:Q4

          按JIF指標學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
          學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

          19.2%

          按JCI指標學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
          學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 287 / 354

          19.07%

          Gold OA文章占比 研究類文章占比 文章自引率
          69.13% 96.15% 0.07...
          開源占比 出版國人文章占比 OA被引用占比
          0.27... 0.12 0.01...

          名詞解釋:JCR分區(qū)在學(xué)術(shù)期刊評價、科研成果展示、科研方向引導(dǎo)以及學(xué)術(shù)交流與合作等方面都具有重要的價值。通過對期刊影響因子的精確計算和細致劃分,JCR分區(qū)能夠清晰地反映出不同期刊在同一學(xué)科領(lǐng)域內(nèi)的相對位置,從而幫助科研人員準確識別出高質(zhì)量的學(xué)術(shù)期刊。

          CiteScore 指數(shù)(2024年最新版)

          CiteScore SJR SNIP CiteScore 指數(shù)
          3.8 0.289 0.595
          學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
          大類:Engineering 小類:Control and Systems Engineering Q2 137 / 321

          57%

          大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 350 / 797

          56%

          名詞解釋:CiteScore是基于Scopus數(shù)據(jù)庫的全新期刊評價體系。CiteScore 2021 的計算方式是期刊最近4年(含計算年度)的被引次數(shù)除以該期刊近四年發(fā)表的文獻數(shù)。CiteScore基于全球最廣泛的摘要和引文數(shù)據(jù)庫Scopus,適用于所有連續(xù)出版物,而不僅僅是期刊。目前CiteScore 收錄了超過 26000 種期刊,比獲得影響因子的期刊多13000種。被各界人士認為是影響因子最有力的競爭對手。

          數(shù)據(jù)趨勢圖

          歷年中科院分區(qū)趨勢圖

          歷年IF值(影響因子)

          歷年引文指標和發(fā)文量

          歷年自引數(shù)據(jù)

          發(fā)文數(shù)據(jù)

          2019-2021年國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計

          國家/地區(qū) 數(shù)量
          India 169
          CHINA MAINLAND 68
          Iran 53
          USA 35
          Canada 22
          Taiwan 21
          South Korea 17
          Turkey 14
          Egypt 9
          France 9

          2019-2021年機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計

          機構(gòu) 數(shù)量
          NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SY... 47
          INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (I... 37
          ISLAMIC AZAD UNIVERSITY 17
          JADAVPUR UNIVERSITY 11
          XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY 10
          SHAHID BAHONAR UNIVERSITY OF KERMAN (SBU... 8
          BIRLA INSTITUTE OF TECHNOLOGY & SCIENCE ... 6
          NATIONAL YANG MING CHIAO TUNG UNIVERSITY 6
          ANNA UNIVERSITY 5
          BRNO UNIVERSITY OF TECHNOLOGY 5

          2019-2021年文章引用數(shù)據(jù)

          文章引用名稱 引用次數(shù)
          Novel CNFET ternary circuit techniques f... 10
          Novel CMOS MO-CFDITA based fully electro... 7
          Efficient designs of reversible latches ... 7
          Efficient design of coplanar ripple carr... 7
          Widely tunable low-pass g(m) - C filter ... 6
          Tuning approach for first-order filters ... 6
          Transmission gate-based 9T SRAM cell for... 6
          Fault-tolerant delay cell for ring oscil... 5
          Light activation of noise at microwave f... 5
          Analytical modelling and parameters extr... 5

          2019-2021年文章被引用數(shù)據(jù)

          被引用期刊名稱 數(shù)量
          IET CIRC DEVICE SYST 83
          IEEE ACCESS 43
          J CIRCUIT SYST COMP 35
          MICROELECTRON J 34
          AEU-INT J ELECTRON C 29
          ANALOG INTEGR CIRC S 22
          CIRC SYST SIGNAL PR 21
          ELECTRONICS-SWITZ 17
          IEEE T ELECTRON DEV 13
          IEICE ELECTRON EXPR 11

          2019-2021年引用數(shù)據(jù)

          引用期刊名稱 數(shù)量
          IEEE J SOLID-ST CIRC 200
          IEEE T ELECTRON DEV 184
          IEEE T CIRCUITS-I 142
          IEEE T CIRCUITS-II 98
          ELECTRON LETT 92
          IEEE T POWER ELECTR 83
          IET CIRC DEVICE SYST 83
          IEEE T VLSI SYST 82
          IEEE T COMPUT AID D 53
          IEEE T MICROW THEORY 52

          相關(guān)期刊

          免責(zé)聲明

          若用戶需要出版服務(wù),請聯(lián)系出版商:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。