首頁 > SCI期刊 > SCIE期刊 > 工程技術 > 中科院4區(qū) > JCRQ4 > 期刊介紹
評價信息：
影響因子：1
年發(fā)文量：98
《印度計量學會馬潘雜志》(Mapan-journal Of Metrology Society Of India)是一本以工程技術-物理：應用綜合研究為特色的國際期刊。該刊由Springer India出版商創(chuàng)刊于2009年，刊期Quarterly。該刊已被國際重要權威數據庫SCIE收錄。期刊聚焦工程技術-物理：應用領域的重點研究和前沿進展，及時刊載和報道該領域的研究成果，致力于成為該領域同行進行快速學術交流的信息窗口與平臺。該刊2023年影響因子為1。CiteScore指數值為2.3。
MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.
The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.
MAPAN-Journal Metrology Society of India 是一份季刊。它專門致力于計量學（科學、工業(yè)或法律）。它通過發(fā)表關于科學、工業(yè)和法律計量的獨家文章，滿足了計量學家和特別是質量從業(yè)人員的重要需求。
該期刊發(fā)表當前測量科學領域感興趣的研究交流或技術文章；任何計量相關領域的原創(chuàng)作品、教程或調查論文；計量學評論和分析研究；關于測量可靠性和不確定度的案例研究；以及比對和熟練度測試的報告和結果。
《Mapan-journal Of Metrology Society Of India》(印度計量學會馬潘雜志)編輯部通訊方式為METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。如果您需要協助投稿或潤稿服務，您可以咨詢我們的客服老師。我們專注于期刊咨詢服務十年，熟悉發(fā)表政策，可為您提供一對一投稿指導，避免您在投稿時頻繁碰壁，節(jié)省您的寶貴時間，有效提升發(fā)表機率，確保SCI檢索（檢索不了全額退款）。我們視信譽為生命，多方面確保文章安全保密，在任何情況下都不會泄露您的個人信息或稿件內容。
2023年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
2022年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月基礎版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
2021年12月升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
2020年12月舊的升級版
| 大類學科 | 分區(qū) | 小類學科 | 分區(qū) | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 工程技術 | 4區(qū) | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 4區(qū) 4區(qū) | 否 | 否 |
基礎版：即2019年12月17日，正式發(fā)布的《2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區(qū)表》；將JCR中所有期刊分為13個大類,期刊范圍只有SCI期刊。
升級版：即2020年1月13日，正式發(fā)布的《2019年中國科學院文獻情報中心期刊分區(qū)表升級版（試行）》,升級版采用了改進后的指標方法體系對基礎版的延續(xù)和改進，影響因子不再是分區(qū)的唯一或者決定性因素，也沒有了分區(qū)的IF閾值期刊由基礎版的13個學科擴展至18個，科研評價將更加明確。期刊范圍有SCI期刊、SSCI期刊。從2022年開始，分區(qū)表將只發(fā)布升級版結果，不再有基礎版和升級版之分,基礎版和升級版（試行）將過渡共存三年時間。
JCR分區(qū)等級：Q4
| 按JIF指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 157 / 179 |
12.6% |
| 按JCI指標學科分區(qū) | 收錄子集 | 分區(qū) | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 68 / 76 |
11.18% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 152 / 179 |
15.36% |
| Gold OA文章占比 | 研究類文章占比 | 文章自引率 |
| 3.23% | 93.88% | 0.2 |
| 開源占比 | 出版國人文章占比 | OA被引用占比 |
| 0.03... | 0.11 | -- |
名詞解釋：JCR分區(qū)在學術期刊評價、科研成果展示、科研方向引導以及學術交流與合作等方面都具有重要的價值。通過對期刊影響因子的精確計算和細致劃分，JCR分區(qū)能夠清晰地反映出不同期刊在同一學科領域內的相對位置，從而幫助科研人員準確識別出高質量的學術期刊。
| CiteScore | SJR | SNIP | CiteScore 指數 | ||||||||
| 2.3 | 0.263 | 0.61 |
|
名詞解釋：CiteScore是基于Scopus數據庫的全新期刊評價體系。CiteScore 2021 的計算方式是期刊最近4年（含計算年度）的被引次數除以該期刊近四年發(fā)表的文獻數。CiteScore基于全球最廣泛的摘要和引文數據庫Scopus，適用于所有連續(xù)出版物，而不僅僅是期刊。目前CiteScore 收錄了超過 26000 種期刊，比獲得影響因子的期刊多13000種。被各界人士認為是影響因子最有力的競爭對手。
歷年中科院分區(qū)趨勢圖
歷年IF值(影響因子)
歷年引文指標和發(fā)文量
歷年自引數據
2019-2021年國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
| 國家/地區(qū) | 數量 |
| India | 98 |
| CHINA MAINLAND | 22 |
| Egypt | 14 |
| Indonesia | 6 |
| Turkey | 6 |
| Iran | 5 |
| Italy | 5 |
| South Korea | 5 |
| Lithuania | 4 |
| Malaysia | 4 |
2019-2021年機構發(fā)文量統(tǒng)計
| 機構 | 數量 |
| COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRIAL RESEA... | 57 |
| CSIR - NATIONAL PHYSICAL LABORATORY (NPL... | 53 |
| ACADEMY OF SCIENTIFIC & INNOVATIVE RESEA... | 26 |
| NATIONAL INSTITUTE FOR STANDARDS (NIS) | 14 |
| NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SY... | 14 |
| INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (I... | 12 |
| THAPAR INSTITUTE OF ENGINEERING & TECHNO... | 7 |
| ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGIC... | 5 |
| KAUNAS UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 4 |
| KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & ... | 4 |
2019-2021年文章引用數據
| 文章引用名稱 | 引用次數 |
| Role of National Pressure and Vacuum Met... | 6 |
| Contributions of National Standards on t... | 5 |
| Epidemiological Study on Respiratory Hea... | 5 |
| A Non-destructive FTIR Method for the De... | 4 |
| Performance Analysis of Hybrid Optical A... | 4 |
| FEA-Based Design Studies for Development... | 4 |
| Reconstruction Method Adopting Laser Pla... | 3 |
| Investigations on Metaheuristic Algorith... | 3 |
| Signal Averaging for Noise Reduction in ... | 3 |
| Development and Realization of Iron-Carb... | 2 |
2019-2021年文章被引用數據
| 被引用期刊名稱 | 數量 |
| MAPAN-J METROL SOC I | 136 |
| REV SCI INSTRUM | 8 |
| MEASUREMENT | 7 |
| ACCREDIT QUAL ASSUR | 5 |
| J ELECTRON MATER | 5 |
| J INTELL FUZZY SYST | 4 |
| MICROCHEM J | 4 |
| MICROSYST TECHNOL | 4 |
| SENSORS-BASEL | 4 |
| APPL SCI-BASEL | 3 |
2019-2021年引用數據
| 引用期刊名稱 | 數量 |
| MAPAN-J METROL SOC I | 136 |
| METROLOGIA | 53 |
| ATMOS ENVIRON | 40 |
| MEASUREMENT | 22 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 21 |
| ATMOS CHEM PHYS | 17 |
| CURR SCI INDIA | 17 |
| J GEOPHYS RES-ATMOS | 16 |
| IEEE T POWER DELIVER | 14 |
| CLIN CHEM | 13 |
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：7.7
審稿周期：約Time to first decision: 9 days; Review time: 64 days; Submission to acceptance: 82 days; 約2.7個月 約7.8周
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：8.1
審稿周期：約Time to first decision: 6 days; Review time: 44 days; Submission to acceptance: 54 days; 約4.1個月 約6.8周
中科院分區(qū)：3區(qū)
影響因子：3.3
審稿周期：約17.72天 11 Weeks
中科院分區(qū)：1區(qū)
影響因子：98.4
審稿周期： 約3月
中科院分區(qū)：2區(qū)
影響因子：5.8
審稿周期： 約2.4個月 約7.6周
中科院分區(qū)：2區(qū)
影響因子：5.1
審稿周期： 約1.9個月 約2.7周
若用戶需要出版服務，請聯系出版商：METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。
